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重慶哈丁科技有限公司
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2012-05-07
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TC405-Ⅱ
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中華人民共和國
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分析儀器
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上海市
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1 工作室尺寸 750×800×800 mm （深×寬×高） 2 提籃尺寸（約） 600×600×600 mm（深×寬×高） 3 高溫室 高溫室溫度范圍 室溫～ +180℃ 升溫速率 室溫 ～ +180℃ ≤50min 4 低溫室 低溫室溫度范圍 -50℃～+85℃ 降溫速率 室溫到-50℃≤60min 5 提籃 溫度沖擊范圍 -40 ～ +150℃ 溫度波動度 ≤±0.5℃（空載、恒定狀態時） 溫度偏差 ≤±2℃（空載、恒定狀態下，提籃內水平5點測試） 高溫暴露 +150℃ 30 min 低溫暴露 -40 30 min 樣品轉換時間 ≤5S 溫度恢復時間 ≤5min 提籃承載 ≥20kg 溫度沖擊方式 由中央控制器自動控制提籃在低溫箱或高溫箱之間轉換運動，分別與高溫箱或低溫箱形成閉路空氣循環系統，迅速達到試驗的目標溫度。 6 安裝功率 約26kW 7 滿足標準 GJB150.3-86；GJB150.4-86； GJB150.5-86溫度沖擊試驗； GB2324.22-89試驗Na；GB2423.1-89試驗A 低溫試驗方法；GB2423.2-89試驗B 高溫試驗方法；GJB360.7-87溫度沖擊試驗；GJB367.2-87溫度沖擊試驗 8 測試方法 GB/T 5170 9 電 壓 380V±10%； 50 Hz；三相四線+接地線 10污染、電磁輻射 符合相關標準要求 以上產品運行技術數據除溫度恢復時間外均在室溫25℃，相對濕度≤85%R.H，測試室空載條件下測得
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本系列產品是根據用戶要求設計制造，廣泛用于航空、航天、電子、IT行業、儀器儀表、電工產品等模擬試品在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產品篩選等。
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上海半導體照明工程技術研究中心
機構介紹:
上海市半導體照明公共檢測和評價中心主要通過整合和加強上海市在半導體照明領域內測試力量而建立的一個針對半導體照明產業的專業性測試中心，其具有基本適應半導體照明產業發展的檢測評估，又具有在某些方面可躋身世界先進行業的技術新手段和能力。中心提供的測試、評估等多項服務促使產業的技術進步和產品應用，并通過參與制定一些行業技術規范和標準，使上海乃至長三角地區該產業能高速、健康發展。
資質能力：
