半導體參數測試系統
- 制造廠商：美國Keithley公司
- 購置日期：2019-03-04
- 型號：4200
- 生產國別：美國
- 儀器類別：物理性能測試儀器
- 安放地址：浙江省
跨區域科技政策：
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- 儀器詳情
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用于半導體參數及器件特性測試
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暫無信息
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暫無信息
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1. 普通IV 測量 0.1 fA~100 mA; 1μV~200 V, 4 SMU Unit)2. 普通CV測量 3. 四點探針測量 4. Hall 效應測量5. 高電阻測量功能 6. 脈沖 IV 測量 7. 脈沖CV
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材料科學
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分析檢測、技術咨詢
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服務于半導體材料的特性研究
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50 (元/樣品)
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1260
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87
